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光學(xué)冷熱臺(tái)支持與各類(lèi)顯微鏡、光譜儀等光學(xué)儀器設(shè)備聯(lián)用，進(jìn)行變溫下的光學(xué)觀察及測(cè)試。 可在 -190~600℃ / RT~1200℃ 的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行溫控，實(shí)現(xiàn)樣品在氣密 / 真空環(huán)境下的變溫光學(xué)觀察及測(cè)試。

變溫光譜儀冷熱臺(tái)可實(shí)現(xiàn)多種環(huán)境(氣氛、真空、濕度等)，與顯微鏡、拉曼、光譜儀、DIC等聯(lián)用，進(jìn)行材料、器件等的成分、相變、形變、電學(xué)、光學(xué)性能等測(cè)試。